Prosessirefraktometrit

Pitoisuusmittauksen taitekertoimeen perustuvaan suoraan mittaukseen ei vaikuta häiritsevästi väri, kuplat eikä kiintoainepartikkelit.

Vuodesta 1983 lähtien prosessirefraktometrejä valmistaneen kotimaisen yrityksen, K-Patents Oy:n, laitteita on toimitettu ympäri maailmaa eri teollisuusalojen pitoisuusmittauksiin.

Vaatimuksena taitekertoimeen perustuvassa mittauksessa on, että mitattava komponentti on liuenneena mitattavassa aineessa.

Tuotteet:

• PR-23-AC Refraktometri hygieenisiin kohteisiin
• PR-23-AP Refraktometri hygieenisiin kohteisiin
• PR-23-APP Refraktometri hygieenisiin kohteisiin
• PR-23-W Prosessirefraktometri (Saunders)
• PR-23-M Prosessirefraktometri (teflon- mittauskammio)
• PR-23-SD Prosessirefraktometri ulosvetoyhteellä (Safe Drive)
• DD-23 Digital Divert- mittausjärjestelmä
• PR-01-S Prosessirefraktometri
• DD-01 Digital Divert- mittausjärjestelmä
• PR-33-S Refraktometri puolijohdeteollisuudelle
• PR-23-MS Refraktometri puolijohdeteollisuudelle