Prosessirefraktometrit

VAISALA K-PATENTS® -prosessirefraktometrit –
Teollisuuden luotettavimmat pitoisuusmittaukset

K-Patents on ollut osa Vaisalaa vuodesta 2018 alkaen. Vuosien ajan K-Patentsin vahvuus on ollut prosessirefraktometriteknologian jatkuva kehittäminen. K-Patentsilla on keskitytty innovatiivisten ja korkealaatuisten mittalaitteiden lisäksi erityisesti mittaussovellusten kehittämiseen. Tässä kehitystyössä on ollut keskiössä asiakkaiden erityistarpeiden huomioiminen useilla eri teollisuuden aloilla. Jo ennen liittymistä Vaisalaan K-Patents toimi maailmanlaajuisesti yhteistyössä jälleenmyyjäverkoston kanssa. Vaisala K-Patents refraktometrien tärkeimpiä kohderyhmiä ovat sellu- ja paperi-, ruoka- ja panimo-, sokeri-, lääke- ja kemianteollisuudet. Kontram on toiminut K-Patentsin (nykyään Vaisala) kanssa yhteistyössä vuodesta 1991.

Mittausperiaate

Prosessirefraktometrilla mitataan pitoisuutta. Pitoisuus ilmoitetaan useimmiten yksikössä brix tai prosentti, mutta pitoisuudesta voidaan laskea myös liuoksen tiheys. Refraktometri perustuu aineiden rajapinnassa tapahtuvaan valon taittumiseen ja koko mittausperiaate perustuu liuoksen taitekertoimen nD mittaamiseen. Tähän arvoon eivät vaikuta liuoksessa olevat kuplat tai muut partikkelit. Taitekertoimeen vaikuttaa ainoastaan lämpötila, joka mitataan prosessirefraktometrissa apusuureena.

Prosessirefraktometrissa on kolme peruskomponenttia: Valolähde, prisma ja digitaalinen kamera. Valolähde lähettää valon prismalle, joka on kosketuksessa prosessiaineen kanssa. Prisman ja prosessiaineen rajapinnassa tapahtuvan heijastuman kriittinen kulma muodostaa kameran kennolle optisen kuvan. Kriittinen kulma muuttuu aineen pitoisuuden muuttuessa.

Vaisala K-Patents refraktometri on paras tapa mitata pitoisuutta

Vaisala K-Patents digitaalinen prosessirefraktometri on mittausperiaatteensa ansiosta tarkka eikä siinä ilmaannu lainkaan kalibroinnin poikkeamaa. Laitteen kamerakenno muodostaa prismalla taittuneesta valosta digitaalisen kuvan, joka on tehdasviritetty vastaamaan oikeaa taitekertoimen arvoa.